98.31 (Diskussion) 09:52, 21. Apr. 2008 (CEST)) "Damit hat das Rasterkraftmikroskop zusammen mit dem Rastertunnelmikroskop (RTM bzw. STM) die höchste Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein Und wer hat's erfunden? Die Schweizer? Nein, Rohrer war nicht an der Erfindung des AFM beteiligt! --193.159.119.242 23:51, 3. Mär 2004 (CET) Das ist mMn Im Artikel wird nicht erwähnt, um welche Kräfte es sich genau handelt, die zwischen den Atomen der Spitze und der Probe hauptsächlich wirken (Van der Waals Hallo Ich bin kein Fachmann bezüglich AFM aber im Abschnitt 3.1.2 (Nicht-Kontakt-Modus) finde ich etwas doch komisch. Es wird dabei geschrieben: "Das Schwingungssignal Nur so am Rande: Trademarks 75298038 und 76234871 (Tappingmode und tapping mode) sind seit 2000 gelöscht. Eine Suchanfrage beim USPTO ergibt: Word Mark Hab jetzt nicht gesehen, dass es shcon angesprochen wurde. Also bin kein Experte auf dem Gebiet, aber soviel ich weiß sind der tapping mode (oszillierend) Hallo, im Rahmen meines Studiums befasse ich mich im Moment. Mit dem RKM. Mir ist aufgefallen das bei dem Contact Mode es noch eine unterteilung in constant der Elektronenhüllen. --CRecknagel 22:42,28.11.2009 (CEST) Unter Rasterkraftmikroskop#Störungen während der Messung steht unter "Interferenzen" was davon Die Hersteller Links sind nützlich und nötig, da es eine Vielzahl von verschiedenen AFM-Versionen gibt. Die jeweiligen Mikroskope wurden größtenteils auf da Elektronenstrahlen eine kleinere Wellenlänge haben als Licht. Rasterkraftmikroskope arbeiten nach einem anderen Prinzip und haben sehr feine Nadeln Messverfahren wie mechanischen und optischen Profilometern oder Rasterkraftmikroskopen.  Peter Kiehl: Einführung in die DIN-Normen. Vieweg+Teubner, 2001 Metall-Grenzflächen Verwendung. Die Kombination einer Kelvin-Sonde mit einem Rasterkraftmikroskop wird als Raster-Kelvin-Mikroskop oder Kelvinsondenkraftmikroskop RKM steht für: Rasterkraftmikroskop Reißkilometer, siehe Reißlänge rezensionen:kommunikation:medien (rkm), Zeitschrift für Medienwissenschaft Röntgenkontrastmittel schubförmig verlaufenden multiplen Sklerose zugelassen. Mit dem Rasterkraftmikroskop konnte die Bindungskraft von VLA4/VCAM-1 - Rezeptoren zwischen lebenden fortgeführt werden. Danke --Cepheiden 18:27, 24. Apr. 2007 (CEST) Das Rasterkraftmikroskop ist ein zu den Rastersondenmikroskopen gehörendes Messgerät. Das Abkürzung PFM steht für: Pulsed Force Mode, eine Betriebsart für ein Rasterkraftmikroskop Photonic Force Microscope, eine Mikroskopieart (optische Pinzette) und Rastersondenmethoden wie das Rastertunnelmikroskop oder das Rasterkraftmikroskop, mit welchen sich unter günstigen Bedingungen eine atomare Auflösung Rastertunnelmikroskops. Prof. Dr. Gerd Binnig entwickelte anschließend das Rasterkraftmikroskop. Im Jahr 1994 gründete er die Firma Delphi2 Creative Technologies der Fußballverband von Macao Atomic Force Microscope (engl.), ein Rasterkraftmikroskop Außenhandelsverband für Mineralöl und Energie, siehe AFM+E Authority Als Cantilever wird die Messnadel von Rasterkraftmikroskopen (AFM) bezeichnet. Diese besteht typischerweise aus einer ca. 3,4 mm langen und 1,6 mm breiten nano-mechatronischen Gerätetechnik sind das Rastertunnelmikroskop und das Rasterkraftmikroskop. Sie ermöglichen durch mechatronische Piezo-Aktor-Module die Darstellung Neuenburg entwickelte Rasterkraftmikroskop schaffte es sogar, 10 nm kleine Strukturen abzubilden. Es war das erste Rasterkraftmikroskop, das bei einer Planetenmission Probe nur minimal verändert wird. Rasterelektronenmikroskop (REM) Rasterkraftmikroskop (AFM) Rastertunnelmikroskop (RTM bzw. STM) Rastertransmissionselektronenmikroskop Transmissions-Elektronenmikroskop Raster-Elektronenmikroskop Rastertunnelmikroskop Rasterkraftmikroskop Helium-Ionen-Mikroskop Focused-Ion-Beam-Mikroskop Feldionenmikroskop