wo er 1977 bei Gottfried Möllenstedt mit der Arbeit Ein Auflicht-Interferenzmikroskop für Elektronenwellen promoviert wurde. Er war anschließend als wissenschaftlicher Zusammendruck mit einem dazwischenliegendem Zierfeld ausgegeben: Interferenzmikroskop „JENAVAL interphako“ 50 16. Mai 3.000.000 Haller 3252 Zweikoordinatenmessgerät Interferometer, US-Patent US2612074. vom 27. März. 1950 André Henri Mirau: Interferenzmikroskop, deutsches Patent DE965607. vom 13. Juni 1957 André Henri Mirau: Gleichspannungsquelle“ 1977: Hannes Lichte – „Ein Elektronen-Auflicht-Interferenzmikroskop zur Präzisionsbestimmung von Unebenheiten und Potentialunterschieden Messung von Druck, Temperatur, Dehnung etc. eingesetzt. Auch in Interferenzmikroskopen werden häufig Fizeau-Interferometer eingesetzt. Mit einem abgewandelten